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德國菲希爾FISCHER
英國泰勒霍普森 Taylor Hobson
美國API
杭州思看
美國哈希代理
意大利哈納代理
德國馬爾Mahr
德國艾達米克-霍梅爾Hommel
日本三豐 Mitutoyo
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美國Mark-10測力計
美國Fluke 福祿克
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美國FLIR 前視紅外熱像系統(tǒng)
美國Fluke福祿克
美國GE無損檢測
上海尚材 SCTMC
香港嘉儀CanNeed
宇舟 金相機械設備
北京時代 TIME
英國牛津Oxford
英國易高Elcometer
英國Renishaw雷尼紹
瑞士博勢 Proceq
表面處理層無損檢測系統(tǒng)
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Fischer DualScope DMP20雙功能涂層測厚儀 穩(wěn)健性、易操作性和數(shù)據(jù)導出方面樹立了新標準，從而使我們生產(chǎn)中的日常質量控制更加容易。
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涂層測厚儀fischer代理isoscope fmp10，fischer涂層測厚儀，篤摯儀器現(xiàn)貨供應，產(chǎn)品質量優(yōu)。
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Fischer Deltascope FMP10涂層測厚儀，fischer涂層測厚儀， 篤摯儀器現(xiàn)貨供應DeltaScope FMP10涂層測厚儀
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Fischer庫倫法測厚儀|Fischer代理，菲希爾代理產(chǎn)品，篤摯儀器現(xiàn)貨供應，產(chǎn)品質量優(yōu)價格好。
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fischer電導率測試儀Sigmascope SMP350，電導率測試儀，篤摯儀器現(xiàn)貨供應，產(chǎn)品質量優(yōu)價格好。
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Fischer測厚儀代理V1FGA1HR34磁感應探頭：貨號604-183。帶微處理芯片智慧型插拔式磁感應探頭。特殊的探頭用于測量直徑大于7mm的軸套或管子內部。手柄到測量元件的長度為100mm，亦即可測量的*大距離。
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fischer fmp20+探頭fd10（604-143）測厚儀 DUALSCOPE FMP20操作簡便，機體堅固并配有一塊高對比度彩色顯示屏和一個USB端口，可以輕松地將測量數(shù)據(jù)傳輸?shù)诫娔X，并通過便利的FISCHER DataCenter軟件進行計算和儲存。
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fischer銅厚測量儀 sr-scope rmp30-s SR-SCOPE RMP30-S 該便攜式設備采用4點電阻法，十分適合測量多層電路板上薄鍍層的厚度。這種電路板上的多層銅鍍層通常被環(huán)氧樹脂等絕緣體隔開。SR-SCOPE 的優(yōu)勢是利用電阻法測量不會受到其他層的影響，因此能夠準確測定最上層面銅層的厚度。
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fischer ferritscope-菲希爾鐵素體分析儀 篤摯儀器代理供應*鐵素體分析儀，鐵素體測試儀，奧氏體和雙相鋼不銹鋼鐵素體分析儀，奧氏體不銹鋼焊縫中δ鐵素體的存在會影響焊縫的強韌性、耐腐蝕性及焊接性,工程現(xiàn)場的焊接過程通常借助鐵素體含量測定儀來控制δ鐵素體的含量。
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測厚儀fischer fmp20+探頭fd10（604-143） FMP20 型儀器是專業(yè)便攜式測量系統(tǒng)中的入門級機型，是現(xiàn)場檢查和控制測量的理想選擇。DUALSCOPE FMP20機型可以測量幾乎所有金屬底材上的涂鍍層厚度:可以測量鐵材或鋼材上非鐵磁金屬鍍層的厚度，例如：鉻、銅、鋅以及涂料、油漆、搪瓷和塑料鍍層。也可以測量非鐵磁金屬基。材上涂料、油漆、塑料涂層和陽極氧化層的厚度。
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菲希爾Fischer MP0R測厚儀*總代理 篤摯儀器代理供應的德國*菲希爾Fischer MP0R測厚基于自動的基材識別功能和兩種測量法的結合（磁感應/渦流，符合 DIN EN ISO 2178, ASTM D7091 和 DIN EN ISO 2360 標準），此通用型設備不僅可以對鐵/鋼上的多種涂層進行測量還可以對非鐵金屬上的涂層進行測量。德國MPO涂層測厚儀符合國家標準GB/T
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fischerscope mms pc2電子行業(yè)銅厚測厚儀 這一插入式模塊采用了微電阻方法，適合于測量多層板上表面銅鍍層的厚度。尤其是薄的層積板，也是組成多層印刷線路板的起始材料上的銅鍍層，以及帶環(huán)氧間隙層的多層板上銅鍍層的厚度。銅的厚度在0.1至10 µm （0.04 至0.4 mils） 以及5至120 µm （0.2至4.7 mils），不受中間銅層的干擾。
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鐵素體檢測儀什么品牌好 擁有50多年的經(jīng)驗，位于德國Sindelfingen的HelmutFischer GmbH公司在涂鍍層測厚、材料測試、硬度測試、電導率和鐵素體含量測試、氧化膜致密性和孔隙率測試方面是處于**地位的專家。憑借廣泛的經(jīng)驗，與工業(yè)和研究部門的密切合作，可以為客戶的特定項目提供理想的解決方案。
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無損鍍銀測厚儀 fischer x-ray xdl 230 能量散射X射線熒光光譜法（EDXRF）作為鍍層厚度測量和材料分析的方法，可用來定量和定性分析樣品的元素組成，也可用于鍍層和鍍層系統(tǒng)的厚度測量。無論是在實驗室還是工業(yè)生產(chǎn)環(huán)境中，這一方法都能完美勝任，并還可以與現(xiàn)代化設備一起發(fā)揮作用。
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新一代德國Fischer測厚儀MP0問世 德國菲希爾MP0測厚儀采用廣受認可的Fischer探頭技術，是一款小巧卻能大大程度上滿足您的測量需求的儀器。
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Fischer（菲希爾）庫倫測厚儀總代理 庫侖法是一種簡單易用能夠確定金屬鍍層厚度的電化學分析方法。 這個方法主要應用于檢查電鍍層的質量，現(xiàn)在也適用于監(jiān)控印刷線路板剩余純錫的厚度。 CMS2可以測量幾乎所有基材上金屬鍍層的厚度，包括多鍍層結構
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德國Fischer金屬渦流電導率儀 一款采用渦流法測量非鐵金屬或非磁性金屬如鋁，銅和不銹鋼等的電導率的儀器。此外,基于測量電導率,還可得出關于硬度和熱處理的材料強度方面的結論。也可以確定熱損傷和材料疲勞。
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fischerscope膜厚儀代理 FISCHERSCOPE X-RAY XDL /XDLM系列與XUL/XUUM系列密切相關:兩者都使用相同的接收器，準直器和濾片組合。配備了標準X射線管和固定準直器的XDL儀器非常適合大工件的測量。XDLM型號的X射線源采用微聚焦管，可以測量細小的部件，對低輻射組分有較好的激勵作用。
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菲希爾測厚儀