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產(chǎn)品名稱:
fischerscope膜厚儀代理
發(fā)布時間:
2024-09-03
產(chǎn)品品牌:
Helmut Fischer/德國菲希爾
產(chǎn)品特點(diǎn):
fischerscope膜厚儀代理
FISCHERSCOPE X-RAY XDL /XDLM系列與XUL/XUUM系列密切相關(guān):兩者都使用相同的接收器,準(zhǔn)直器和濾片組合。配備了標(biāo)準(zhǔn)X射線管和固定準(zhǔn)直器的XDL儀器非常適合大工件的測量。XDLM型號的X射線源采用微聚焦管,可以測量細(xì)小的部件,對低輻射組分有較好的激勵作用。
  XDLM237fischerscope膜厚儀代理的詳細(xì)資料:

FISCHERSCOPE X-RAY XDL /XDLM系列與XUL/XUUM系列密切相關(guān):兩者都使用相同的接收器,準(zhǔn)直器和濾片組合。配備了標(biāo)準(zhǔn)X射線管和固定準(zhǔn)直器的XDL儀器非常適合大工件的測量。XDLM型號的X射線源采用微聚焦管,可以測量細(xì)小的部件,對低輻射組分有較好的激勵作用。此外,XDLM配備了可自動切換的準(zhǔn)直器和多種濾片可以靈活地為不同的測量應(yīng)用創(chuàng)造良好的激勵條件。

產(chǎn)品型號

  •         FISCHERSCOPEX-RAY XDL M231 熒光鍍層測厚儀
  •         FISCHERSCOPE X-RAY XDLM 232 x射線熒光鍍層測厚儀
  •         FISCHERSCOPE X-RAY XDLM237 x射線熒光鍍層測厚和材料分析儀

 

兩種型號的儀器都配備了比例接收器探測器。即使對于很小的測量點(diǎn),由于接收器的接收面積很大,仍然可以獲得足夠高的計數(shù)率,確保良好的重復(fù)精度。比較XUL和XUM儀器而言,XDL和XDLM系列儀器測量測量方向從.上到下。它們被設(shè)計為用戶友好的臺式機(jī),使用模塊化結(jié)構(gòu),也就是說它們可以配備簡單支板,各種XY工作臺和Z軸以適應(yīng)不同的需求。配備了可編程XY工作臺的版本的XDL系列儀器可用于自動化系列測試。它可以很方便地掃描表面,這樣就可以檢查其均勻性。為了簡單快速定位樣品,當(dāng)測量門開啟時,XY工作臺自動移動到加載位置,同時激光點(diǎn)指示測量點(diǎn)位置。對于大而平整的樣品,例如線路板,殼體在側(cè)面有開口(C形槽)。由于測量室空間很大,樣品放置方便, 儀器不僅可以測量 平面平整的物體,也可以測量形狀復(fù)雜的大樣品(樣品高度可達(dá)140mm)。Z軸可電動調(diào)整的儀器,測量距離還可以在0 - 80 mm的范圍內(nèi)自由選擇,這樣就可以測量腔體內(nèi)部或表面不平整的物體(DCM方法)。

特征:

      。帶玻璃窗口和鎢靶的X射線管或帶鈹窗和鎢靶的微聚焦X射線管。
      。*高工作條件:50KV,50W
      。X射線探測器采用比例接收器
      。準(zhǔn)直器:固定或4個自動切換,0.05 x0.05 mm到00.3 mm
      ?;緸V片:固定或3個自動切換
      。測量距離可在0-80 mm范圍內(nèi)調(diào)整
      。固定樣品支撐臺,手動XY工作臺
      。攝像頭用來查看基本射線軸向方向的測量位置。
      ??潭染€經(jīng)過校準(zhǔn),顯示實(shí)際測量點(diǎn)大小。
      。設(shè)計獲得許可, 防護(hù)全面,符合德國X射線條例第4章第3節(jié)

 

典型應(yīng)用領(lǐng)域:

      。大批量電鍍件測量
      。防腐和裝飾性鍍層,如鎳或銅上鍍鉻
      。電鍍行業(yè)樓液分析
      。線路板行業(yè)如薄金,鉑和鎳鍍層的策略
      。測量接插件和觸點(diǎn)的鍍層
      。電子和半導(dǎo)體行業(yè)的功能性鍍層測量
      。黃金,珠寶和手表行業(yè)

 

 

應(yīng)用實(shí)例

XDLM測量系統(tǒng)經(jīng)常用來測量接插件和觸點(diǎn)的各種底材上的Au/Ni, Au/PdNi/Ni, Ag/Ni或Sn/Ni鍍層的厚度。通常功能區(qū)都是很小的結(jié)構(gòu)如良好或突起,測量這些區(qū)域必須使用很小的準(zhǔn)直器或適合樣品形狀的準(zhǔn)直器。例如測量橢圓形樣品時,就要使用開槽的準(zhǔn)直器以獲得*大的信號強(qiáng)度。

 

德國菲希爾FISCHERSCOPE X-RAY XDLM237參數(shù)規(guī)格:

通用規(guī)格

設(shè)計用途

能量色散X射線熒光鍍層測厚及材料分析儀 (EDXRF) 用來測量薄鍍層和微小結(jié)構(gòu), 分析合金和微量組分。

元素范圍

從元素 氯(17) 到 鈾(92) 配有可選的WinFTM? BASIC軟件時,多可同時測定24種元素

形式設(shè)計

臺式儀器,測量門向上開啟

測量方向

從上到下

 

X射線源

X射線管

帶鈹窗口的微聚焦鎢管

高壓

三檔: 30 kV,40 kV,50 kV

基本濾片

3種可切換的基本濾片(標(biāo)準(zhǔn)配置:鎳,鋁,無)

測量點(diǎn)

取決于測量距離及使用的準(zhǔn)直器大小, 實(shí)際的測量點(diǎn)大小與視頻窗口中顯示的* 小的測量點(diǎn)大小: 光圈約? 0.1 mm(選用準(zhǔn)直器0.05x0.05 mm時)

X射線探測

X射線接收器

測量距離

比例接收器

0 ~ 80 mm,使用保護(hù)的DCM測量距離補(bǔ)償法

 視頻系統(tǒng)

視頻系統(tǒng)

高分辨率CCD彩色攝像頭,沿著初級X射線光束方向觀察測量位置 手動聚焦,

對被測位置進(jìn)行監(jiān)控 十字線(帶有經(jīng)過校準(zhǔn)的刻度和測量點(diǎn)尺寸) 可調(diào)節(jié)

亮度的LED照明,激光光點(diǎn)用于定位樣品

放大倍數(shù)

40x - 160x

電氣參數(shù)

電源要求

交流 220 V 50 Hz

功率

大 120 W (不包括計算機(jī))

保護(hù)等級

IP40

尺寸規(guī)格

外部尺寸

寬x深x高[mm]:570 x 760 x 650

內(nèi)部測量室尺寸

重量

寬x深x高[mm]:460 x 495 x 146

120kg

 

 

產(chǎn)品相關(guān)關(guān)鍵字: XDLM237 fischerscope fischerscope膜厚儀 fischer膜厚儀 fischer代理
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