日本三豐mitutoyo SJ-210說(shuō)明書(shū) 能夠出色適用在檢測室、加工車(chē)間、生產(chǎn)現場(chǎng)等場(chǎng)合,設計滿(mǎn)足客戶(hù)需求的緊湊型一體式表面粗糙度測量?jì)x。 彩色液晶顯示器不僅能顯示計算結果和測量條件,還能顯示表面粗糙度波形。另外, 大尺寸字體使其可見(jiàn)度更好。
查看詳細介紹英國泰勒公司surtronic DCA與AMETEK Taylor Hobson團隊合作開(kāi)發(fā)其新的便攜式表面光潔度分析儀 - 新的Surtronic Duo。本產(chǎn)品由可分離的測量導線(xiàn)和通過(guò)無(wú)線(xiàn)藍牙鏈接連接的顯示單元組成
查看詳細介紹磁吸力法機械式涂層鍍層麥考特測厚儀 麥考特測厚儀又稱(chēng)為麥考特測厚儀價(jià)格、 麥考特測厚儀代理、 麥考特測厚儀使用說(shuō)明、 德國麥考特測厚儀、 鍍鋅板測厚儀、 機械式鍍層測厚儀、 指針式涂層測厚儀、 麥考特G6鍍層測厚儀、 麥考特覆層測厚儀、 G6鍍層測厚儀價(jià)格、 德國麥考特測厚儀、 NIFE50鍍層測厚儀、
查看詳細介紹Bambino 2 現場(chǎng)用便攜式金屬硬度計 。這款獨立式測試儀無(wú)須其他顯示裝置、電纜或計算機硬件。有著(zhù)輕巧而緊致設計的BAMBINO 是質(zhì) 量控制、來(lái)料檢驗和全部產(chǎn)品測試的理想之選
查看詳細介紹德國馬爾M系列便攜式粗糙度儀M400 測量原理:探針接觸測量法,測尖gum 測力:0.7m n 過(guò)濾器類(lèi)型:Gau-Filter, Ls-Filter 標準:DIN/ISO/JIS/ASME/MOTIF
查看詳細介紹日本三豐Mitutoyo SJ210粗糙度儀資料提供 小型表面粗糙度測量?jì)x的**版猶如手動(dòng)工具般的簡(jiǎn)單、易于現場(chǎng)使用、便于攜帶的小型表面形狀測量機
查看詳細介紹KRAUTKRAMER測厚儀-CL5/DM5E CL5用于金屬和塑料部件的厚度測量。這些部件幾何形狀復雜,使用傳統的儀表通常無(wú)法準確地檢測。通過(guò)使用可選的實(shí)時(shí)A-掃描
查看詳細介紹FeritScope FMP30鐵素體含量檢測儀測量原理 鐵素體檢測儀測量原理為磁感應原理 在奧氏體或雙相鋼必須承受高溫、侵蝕性物質(zhì)以及高壓的情況下,鐵素體含量至關(guān)重要。特別是涉及到化工廠(chǎng)、能源設施及工廠(chǎng)中的現場(chǎng)測量時(shí),FISCHER 手持式設備的優(yōu)勢將非常顯著(zhù)。
查看詳細介紹日本進(jìn)口便攜式色差計 CR-10 Plus 美能達CR-10色差儀已經(jīng)停產(chǎn),替代型號為CR-10 plus型色差儀,測量精度與CR-10老款色差儀保持*,但在很多方面進(jìn)行了升級。Konica Minolta的CR-10 Plus(CR-10升級款)色差儀一種便攜式,電池供電,手持式儀器,用于快速,準確的顏色控制
查看詳細介紹干膜儀麥考特MIKROTEST 麥考特測厚儀又叫做Mikrotest鍍層測厚儀、麥考特涂 層測厚儀、麥考特G6測厚儀、Mikrotest G6、電鍍鎳層測厚儀是MikroTest 的中文音譯
查看詳細介紹BYK光澤儀-德國B(niǎo)YK-Gardner 4561/4562/4563 新型BYK 4561智能的光澤60度測量 多年來(lái),BYK微型光澤儀已成為光澤測量不可超越的工業(yè)標準。它是集高準確度、使用簡(jiǎn)便和多功能于一體的光澤儀 – 為當今品質(zhì)管理的標準而設計。
查看詳細介紹fischer膜厚儀 (菲希爾)FMP10-40代理供應 新一代手提式儀器和可更換的探頭可以提供無(wú)損且高精度的涂鍍層厚度測量。無(wú)論是生產(chǎn)過(guò)程中的質(zhì)量控制,還是在來(lái)料檢驗中的隨機抽檢和全檢,我們都會(huì )提供友好的用戶(hù)體驗和多樣的選擇來(lái)滿(mǎn)足您的需求。
查看詳細介紹taylor hobson泰勒霍普森便攜表面粗糙度儀 Surtronic S-100系列是*耐用的便攜式表面粗糙度測量?jì)x, 適用于車(chē)間、工業(yè)和檢測間的應用。這一系列儀器在2013年9月發(fā)布, 能夠為您的粗糙度測量需求提供多種解決方案, 包括多樣化的系統和應用相關(guān)的配件, 并且能夠為您的特殊需求定制工裝。
查看詳細介紹泰勒S116粗糙度儀 Surtronic S100系列是*耐用的便攜式表面粗糙度測量?jì)x,適用于車(chē)間、工業(yè)和檢測間的應用。 泰勒.霍普森 Surtronic S100 系列有兩種型號可供選擇:S116 粗糙度儀是標準產(chǎn)品;S128則能夠提供提高測量范圍和分析能力。
查看詳細介紹測厚儀MINITEST2100主機探頭零點(diǎn)樣板標準箔 MINITEST1100 和 2100 型測厚儀,根據測頭類(lèi)型的不同,分別運用磁感 應和渦流原理測量覆層厚度,并符合以下工業(yè)標準: DIN 50981、50982、50984;ASTM B499、B244;ISO 2178、2360; BS 5411。 DIN 50981 和 50984 已經(jīng)被 DIN EN ISO 2178 和 DIN EN
查看詳細介紹SMP350電導率儀探頭FS40(標準試塊選配) 電導率是一個(gè)重要的材料屬性,不僅對金屬傳導電流的能力,也對其成分、微觀(guān)結構和機械性能提供信息。使用SIGMASCOPE®SMP350可以簡(jiǎn)單快速并準確地測定電導率。
查看詳細介紹minitest 600b n2渦流測厚儀(EPK) MiniTest 600 B-F3 (存儲統計型,鐵基涂層,0-3000um,含校準箔,防塵套,分辨率1um) MiniTest 600 B-N2 (存儲統計型,非鐵基涂層,0-2000um,含校準箔,防塵套,分辨率1um)
查看詳細介紹日本三豐進(jìn)口高度儀LH-600E / EG 日本三豐進(jìn)口高度儀 LH-600E / EG ,2D測量系統,為方便用戶(hù)操作, 可選擇多種信息語(yǔ)言包括英語(yǔ)、 德語(yǔ)、 法語(yǔ)、 西班牙語(yǔ)、 意大利語(yǔ)、 荷蘭語(yǔ)、 葡萄牙語(yǔ)、
查看詳細介紹fischer(菲希爾)中國 庫侖測厚儀 作為測量鍍層厚度蕞簡(jiǎn)單的方法之一,庫侖法可以用于各種鍍層組合。 尤其對于多鍍層結構, 當允許破壞性測量時(shí),它提供了一個(gè)比X射線(xiàn)更經(jīng)濟的替代方法。
查看詳細介紹API 進(jìn)口激光干涉儀(美國自動(dòng)精密工程) 激光干涉儀產(chǎn)品具有測量精度高、測量速度快、、高測速下分辨率高、測量范圍大等優(yōu)點(diǎn)。通過(guò)與不同的光學(xué)組件結合,可以實(shí)現對直線(xiàn)度、垂直度、角度、平面度、平行度等多種幾何精度的測量。
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