| |
|
產(chǎn)品名稱： |
雷尼紹坐標(biāo)測量機(jī) （CMM）探頭TP200 |
發(fā)布時(shí)間： |
2024-09-01 |
產(chǎn)品品牌： |
RENISHAW/英國雷尼紹 |
產(chǎn)品特點(diǎn)： |
雷尼紹坐標(biāo)測量機(jī) （CMM）探頭TP200具有模塊交換功能的超小型測頭，它使用應(yīng)變片機(jī)構(gòu)，比機(jī)械結(jié)構(gòu)式觸發(fā)測頭的壽命更長、精度更高 |
|
| |
雷尼紹坐標(biāo)測量機(jī) （CMM）探頭TP200的詳細(xì)資料： |
雷尼紹坐標(biāo)測量機(jī) (CMM)探頭TP200 TP200系統(tǒng)組件包括： - TP200或TP200B測頭本體（TP200B為另一款，允許更大振動(dòng)公差）
- TP200測針模塊 — 選擇固定過行程測力：SF（標(biāo)準(zhǔn)測力）或LF（低測力）
- PI 200-3測頭接口
- SCR200測針交換架
 REVO®五軸測量多類型傳感器系統(tǒng)雷尼紹的測頭測量系統(tǒng)經(jīng)過精心設(shè)計(jì)， 選用雷尼紹的全系列測針時(shí)性能**。 下列測頭全部使用M2螺紋測針， 但配備適當(dāng)?shù)霓D(zhuǎn)接頭也可使用其他螺紋規(guī)格的測針。 TP2
• TP20
• TP200 TP200探頭
TP200探頭結(jié)合了應(yīng)變片技術(shù)，提供了出色的重復(fù)性和準(zhǔn)確的三維形式測量，即使是長樣式。探頭內(nèi)的固態(tài)ASIC（應(yīng)用集成電路）電子設(shè)備確保數(shù)百萬觸發(fā)點(diǎn)的可靠運(yùn)行。觸針模塊通過高重復(fù)性磁運(yùn)動(dòng)接頭安裝在探針上，提供快速更換觸針的能力和探針超程保護(hù)。有三個(gè)觸針模塊可提供兩種不同的超程力。標(biāo)準(zhǔn)力（SF）模塊適用于大多數(shù)應(yīng)用。低力（LF）模塊建議用于小型精密球造型或精密材料。擴(kuò)展超程（EO）模塊與標(biāo)準(zhǔn)模塊具有相同的超程力，但在Z軸上增加了8 mm的超程，以防損壞。 特性與優(yōu)點(diǎn)- 應(yīng)變片技術(shù)具有出色的重復(fù)性和準(zhǔn)確的三維輪廓測量
- 零復(fù)位誤差
- 無各向同性影響
- 六向測量能力
- 測針測量距離達(dá)100 mm（GF測針）
- 快速測頭模塊交換，無需重新標(biāo)定測尖
- 壽命 >1000萬次觸發(fā)
規(guī)格摘要 | TP200 | TP200B |
|---|
主要應(yīng)用 | 用于需要高精度的數(shù)控坐標(biāo)測量機(jī)。 | 與TP200一樣，但當(dāng)出現(xiàn)誤觸發(fā)事件時(shí)。 | 感應(yīng)方向 | 六軸：±X、±Y、±Z | 六軸：±X、±Y、±Z | 單向重復(fù)性 (2σ µm) | 電平觸發(fā)1：0.40 µm 電平觸發(fā)2：0.50 µm | 電平觸發(fā)1：0.40 µm 電平觸發(fā)2：0.50 µm | XY (2D) 侖廓測量偏差 | 電平觸發(fā)1：±0.80 µm 電平觸發(fā)2：±0.90 µm | 電平觸發(fā)1：±1 µm 電平觸發(fā)2：±1.2 µm | XYZ (3D) 侖廓測量偏差 | 電平觸發(fā)1：±1 µm 電平觸發(fā)2：±1.40 µm | 電平觸發(fā)1：±2.50 µm 電平觸發(fā)2：±4 µm | 測針交換的重復(fù)性 | SCR200：±0.50 µm（大） 手動(dòng)：±1 µm（大） | SCR200：±0.50 µm（大） 手動(dòng)：±1 µm（大） | 測力（測尖） | XY平面（所有模塊）：0.02 N Z軸（所有模塊）：0.07 N | XY平面（所有模塊）：0.02 N Z軸（所有模塊）：0.07 N | 過行程測力（位移為0.50 mm時(shí)） | XY平面（SF / EO模塊）：0.2 N至0.4 N XY平面（LF模塊）：0.1 N至0.15 N Z軸（SF / EO模塊）：4.90 N Z軸（LF模塊）：1.60 N | XY平面（SF / EO模塊）：0.2 N至0.4 N XY平面（LF模塊）：0.1 N至0.15 N Z軸（SF / EO模塊）：4.90 N Z軸（LF模塊）：1.60 N | 重量（測頭傳感器和模塊） | 22 g | 22 g | 長加長桿（如配在PH10 PLUS系列測座上） | 300 mm | 300 mm | 推薦的大測針長度（M2測針系列） | SF / EO模塊：50 mm鋼質(zhì)至100 mm GF LF模塊：20 mm鋼質(zhì)至50 mm GF | SF / EO模塊：50 mm鋼質(zhì)至100 mm GF LF模塊：20 mm鋼質(zhì)至50 mm GF | 安裝方式 | M8螺紋 | M8螺紋 | 適合的接口 | PI 200-3、UCC | PI 200-3、UCC | 測針模塊交換架 | 自動(dòng)：SCR200 手動(dòng)：MSR1 | 自動(dòng)：SCR200 手動(dòng)：MSR1 | 測針系列 | M2 | M2 |
TP200測針模塊測針模塊通過高重復(fù)性機(jī)械定位的磁性接頭安裝在TP200/TP200B測頭本體上，具有快速測針交換功能和測頭過行程保護(hù)功能。 有三種測針模塊可供選擇，具有兩種不同的過行程測力。 模塊 | SF（標(biāo)準(zhǔn)測力） | LF（低測力） | EO（長過行程） |
|---|
應(yīng)用 | 一般使用。 | 小直徑測球或必須使用小測力的場合。 | 額外過行程使坐標(biāo)測量機(jī)在較高的碰觸速度下安全停止并回退。 | 說明 | 測針長可達(dá)100 mm，測球直徑 > 1 mm。 | 測球直徑小于1 mm。 | 與SF的過行程測力相同。 測頭Z軸的額外過行程為8 mm。 |
|
| 產(chǎn)品相關(guān)關(guān)鍵字： 雷尼紹坐標(biāo)測量機(jī) 雷尼紹探頭 （CMM）探頭TP200 雷尼紹tp200 探頭tp200 |
| 如果你對(duì)雷尼紹坐標(biāo)測量機(jī) （CMM）探頭TP200感興趣，想了解更詳細(xì)的產(chǎn)品信息，填寫下表直接與廠家聯(lián)系： |
|
| |
首頁 > 產(chǎn)品展示 > 英國Renishaw雷尼紹 > Renishaw三坐標(biāo)測頭 > 雷尼紹坐標(biāo)測量機(jī) （CMM）探頭TP200
英國Renishaw雷尼紹
雷尼紹測頭
點(diǎn)擊放大