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觸發(fā)式測(cè)頭測(cè)針雷尼紹Renishaw

上海篤摯儀器提供雷尼紹品種齊全的精密測(cè)針及測(cè)針附件，可用在雷尼紹的坐標(biāo)測(cè)量機(jī)測(cè)頭、機(jī)床測(cè)頭、掃描測(cè)頭以及Equator™比對(duì)儀上。

掃描測(cè)針的選型取決于掃描應(yīng)用和掃描測(cè)頭的類型。所使用測(cè)針的直徑應(yīng)與生產(chǎn)工件所用精加工刀具的直徑相同。選擇盡可能短的測(cè)針以防過(guò)度彎曲，但要確保測(cè)針足夠長(zhǎng)以防掃描時(shí)碰撞。

直測(cè)針：

直測(cè)針是簡(jiǎn)單且常用的測(cè)針類型，適合大多數(shù)測(cè)量應(yīng)用。測(cè)針球頭材質(zhì)為紅寶石、氮化硅、氧化鋯、陶瓷或碳化鎢。測(cè)針夾持座和測(cè)桿有一系列材料供選擇 — 鈦、碳化鎢、不銹鋼、陶瓷和碳纖維。

星形測(cè)針：

星形測(cè)針是由固定安裝在一起的測(cè)針組成的多測(cè)尖測(cè)針配置。星形測(cè)針可用于檢測(cè)多種特征，包括測(cè)針可直接接觸的各種表面和孔。此配置靈活性強(qiáng)，測(cè)尖可與各種特征接觸，無(wú)需更換測(cè)針。可以使用測(cè)針中心座安裝（多）5個(gè)測(cè)針組件，從而自行配置星形測(cè)針。

測(cè)球材質(zhì)為紅寶石、氮化硅或氧化鋯。星形測(cè)針的每個(gè)測(cè)尖都需要用與單球測(cè)針一樣的方式標(biāo)定。

針型測(cè)針:

這些針型測(cè)針不能用于傳統(tǒng)的XY軸向測(cè)量，而于螺紋牙型、特定點(diǎn)及刻劃線（按較低精度）的檢測(cè)。采用針形測(cè)針，可進(jìn)行更準(zhǔn)確的標(biāo)定及特征的精細(xì)檢測(cè)，并可用于檢測(cè)細(xì)孔的位置。

半球形測(cè)針:

半球形陶瓷測(cè)針是檢測(cè)X、Y和Z向深位特征和孔的理想選擇，只需要標(biāo)定一個(gè)球。此外，用這種大直徑測(cè)球測(cè)量可均化表面粗糙度造成的影響。

柱形測(cè)針:

柱形測(cè)針用于測(cè)量球形測(cè)針無(wú)法準(zhǔn)確接觸的金屬片、模壓組件和薄工件中的孔。還可測(cè)量各種螺紋特征，并可定位攻絲孔的中心。球端面柱形測(cè)針可進(jìn)行全面標(biāo)定及X、Y和Z向測(cè)量，因此可進(jìn)行表面測(cè)量。

盤(pán)形測(cè)針:

盤(pán)形測(cè)針是高球度測(cè)球的“截面”，用于檢測(cè)星形測(cè)針無(wú)法觸及的孔內(nèi)退刀槽和凹槽。盡管用簡(jiǎn)易盤(pán)形測(cè)針的“球形邊緣”進(jìn)行測(cè)量與以大直徑測(cè)球的外圓進(jìn)行測(cè)量效果相同，但測(cè)球表面僅有一小部分能夠接觸到特征。因此為確保與待測(cè)特征有良好接觸，較薄的盤(pán)形測(cè)針需要仔細(xì)調(diào)整角度。

簡(jiǎn)易盤(pán)形測(cè)針僅需要標(biāo)定一個(gè)直徑（通常使用環(huán)規(guī)），但僅限于Ｘ和Y方向的有效測(cè)量。在盤(pán)形測(cè)針上加一個(gè)“半球形滾子”即可進(jìn)行Z方向標(biāo)定和測(cè)量，但該半球形滾子的中心位置須超過(guò)測(cè)頭直徑。半球形滾子可用標(biāo)準(zhǔn)球或塊規(guī)標(biāo)定。將盤(pán)形測(cè)針繞其中心轉(zhuǎn)動(dòng)并鎖定，可定位“半球形滾子”，使之與實(shí)際應(yīng)用位置適應(yīng)。

盤(pán)形測(cè)針的中心還可帶有M2螺紋，可用于固定測(cè)針中心座，這增強(qiáng)了測(cè)量深孔底部特征的靈活性（盤(pán)形測(cè)針本身難以觸測(cè)這些特征）。盤(pán)形測(cè)針有多種直徑和厚度規(guī)格，材質(zhì)通常為鋼、陶瓷或紅寶石。