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產(chǎn)品中心Products 首頁 > 產(chǎn)品展示 > 德國EPK > EPK涂層測厚儀 > MiniTest730 F2 HD
 
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產(chǎn)品名稱:
MiniTest730 F2 HD
發(fā)布時(shí)間:
2024-08-31
產(chǎn)品品牌:
ElektroPhysik/德國EPK
產(chǎn)品特點(diǎn):
MiniTest730 F2 HD
新的MiniTest700涂層測厚儀產(chǎn)品線,加強(qiáng)了德國EPK(Elektrophysik)公司在涂層測厚市場的。
- 創(chuàng)新的SIDSP(探頭內(nèi)部數(shù)字信號(hào)處理)技術(shù)提升了測量的性
- 測量范圍達(dá)15mm,可F、N或FN探頭,提供內(nèi)置或外接探頭
  MiniTest730 F2 HD的詳細(xì)資料:

MiniTest730 F2 HD

 

新的MiniTest700涂層測厚儀產(chǎn)品線,加強(qiáng)了德國EPK(Elektrophysik)公司在涂層測厚市場的。
- 創(chuàng)新的SIDSP(探頭內(nèi)部數(shù)字信號(hào)處理)技術(shù)提升了測量的性
- 測量范圍達(dá)15mm,可F、N或FN探頭,提供內(nèi)置或外接探頭
- FN探頭自動(dòng)識(shí)別F(鐵磁性)或N(非磁性)基體,操作方便不易出錯(cuò)


優(yōu)點(diǎn)一覽:

- SIDSP使測量不受干擾,測值更加
- 可更換探頭使用更加靈活(MiniTest740探頭可由內(nèi)置換為外置)
- FN探頭自動(dòng)識(shí)別基體,使測量更迅速,避免操作錯(cuò)誤
- 溫度補(bǔ)償功能避免溫度變化引起的錯(cuò)誤
- 生產(chǎn)過程中50點(diǎn)校準(zhǔn)使儀器獲得高度的特征曲線
- 大存儲(chǔ)量,能存儲(chǔ)10或100組多達(dá)100,000個(gè)讀數(shù)
- 讀數(shù)和統(tǒng)計(jì)值能單獨(dú)調(diào)出
- 超大,背光顯示屏,顯示內(nèi)容可180度旋轉(zhuǎn)
- 菜單指引操作,25種語言可選
- 帶IrDA接口,紅外線傳輸數(shù)據(jù)到打印機(jī)和PC
- 可下載更新軟件

技術(shù)參數(shù)
 

探頭特性F1.5,N07,F(xiàn)N1.5F2F5,N2.5,F(xiàn)N5F15
FNFFNF
測量范圍0~1.5mm0~0.7mm0~2mm0~5mm0~2.5mm0~15mm
使用范圍小工件,薄涂層粗糙表面標(biāo)準(zhǔn)探頭,使用廣泛厚涂層
測量原理磁感應(yīng)電渦流磁感應(yīng)磁感應(yīng)電渦流磁感應(yīng)
信號(hào)處理探頭內(nèi)部32位信號(hào)處理(SIDSP)
±(1μm+0.75%讀值)±(1.5μm+0.75%讀值)±(5μm+0.75%讀值)
重復(fù)性±(0.5μm+0.5%讀值)±(0.8μm+0.5%讀值)±(2.5μm+0.5%讀值)
低端分辨率0.05μm0.1μm1μm
小曲率半徑(凸)1.0mm1.5mm5mm
小曲率半徑(凹,外置探頭)7.5mm10mm25mm
(凹,內(nèi)置探頭)30mm30mm30mm
小測量面積Ø5mmØ10mmØ25mm
小基體厚度0.3mm40μm0.5mm0.5mm40μm1mm
連續(xù)模式下測量速度每秒20個(gè)讀數(shù)
單值模式下大測量速度每分鐘70個(gè)讀數(shù)
產(chǎn)品相關(guān)關(guān)鍵字: 測厚儀 EPK測厚儀 MiniTest730
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