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產(chǎn)品名稱: |
Fischerscope x-ray xan120熒光x射線測厚儀 |
發(fā)布時間: |
2024-08-30 |
產(chǎn)品品牌: |
Helmut Fischer/德國菲希爾 |
產(chǎn)品特點: |
Fischerscope x-ray xan120熒光x射線測厚儀但是,如果合金中很多元素要測量或存在光譜重疊情況,那么配備半導(dǎo)體探測器的儀器,如XAN120,應(yīng)該更加適合。由于具備非常好的分辨率,它也可以用來區(qū)分例如在牙合金中非常關(guān)鍵的金和鉑以及融合的貴金屬合金。 |
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Fischerscope x-ray xan120熒光x射線測厚儀的詳細(xì)資料: |
Fischerscope x-ray xan120熒光x射線測厚儀FISCHERSCOPE® X-RAY XAN系列配置多樣,可以滿足非常廣泛的應(yīng)用。它在快速準(zhǔn)確分析和用戶友好操作方面具備特殊的優(yōu)勢,如用于貴金屬和金合金的分析。也可以用于電子和線路板行業(yè)*薄鍍層分析。所有型號的硬件部件的安裝位置相同。X射線管和探測器位于測量室的下方。測量方向從下到上。這樣就可以快速方便地放置樣品。XAN系列儀器根據(jù)X射線管,探測器,準(zhǔn)直器和濾片數(shù)目的不同有幾個版本可供選擇。因此,XAN系列可以為各種應(yīng)用和精度要求提供*優(yōu)的解決方案,同時具備良好的成本效益。XAN儀器的分類中也包括硬件和軟件專門設(shè)計用于滿足珠寶行業(yè)和黃金行業(yè)特別需求的型號。 黃金珠寶檢測 典型應(yīng)用領(lǐng)域:珠寶和手表行業(yè)金和貴金屬分析 測量幾個納米的*薄鍍層,如印刷線路板和電子元件上的Au和Pd。 痕量分析(如電子元件(RoHS)或工具中的有害物質(zhì)) 用XAN 150分析諸如Al,Si,P等輕元素 實驗室,測試機(jī)構(gòu)和大學(xué)里一般性的材料分析和鍍層厚度測量 合金分析: CuNiZn RoHS: 塑料內(nèi)的有害物質(zhì) 應(yīng)用實例配備不同類型探測器的儀器都可以用來分析金合金。例如,配備了便宜的比例接收器探測器的XAN110,是分析包含幾個元素的簡單金合金的理想設(shè)備,例如分析含Au、Ag和Cu的黃色金合金。但是,如果合金中很多元素要測量或存在光譜重疊情況,那么配備半導(dǎo)體探測器的儀器,如XAN120,應(yīng)該更加適合。由于具備非常好的分辨率,它也可以用來區(qū)分例如在牙合金中非常關(guān)鍵的金和鉑以及融合的貴金屬合金。對于實驗室和測試機(jī)構(gòu)而言,XAN150配備了硅漂移接收器(SDD),六種濾片和四種不同的準(zhǔn)直器,可以滿足多種多樣的應(yīng)用。這款儀器Au的重復(fù)精度可達(dá)0.5‰以下,準(zhǔn)確性可以灰吹法相媲美。 主要功能特征口帶玻璃窗口和鎢靶的X射線管或帶鈹窗口和鎢靶的微聚焦X射線管。*高工作條件: 50 kV,50W 口X射線探測器采用珀爾帖致冷的硅PIN二極管或硅漂移探測器 口準(zhǔn)直器:固定或4個自動切換,Ø 0.2mm到 Ø2 mm 口基本濾片:固定、3個切換或6個自動切換測量距離可在0--25 mm范圍內(nèi)調(diào)整 口固定樣品支撐臺,有效支撐區(qū)域為318×327mm。*大樣品質(zhì)量2千克,*大樣品高度86mm。 口攝像頭用來查看基本射線軸向方向的測量位置??潭染€經(jīng)過校準(zhǔn),顯示實際測量點大小。 口設(shè)計獲得許可,防護(hù)全面,符合德國X射線條例第4章第3節(jié) Fischerscope x-ray xan120熒光x射線測厚儀
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產(chǎn)品相關(guān)關(guān)鍵字: Fischerscope x-ray xan120 Fischerscope xan120 熒光x射線測厚儀 |
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