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影響麥考特(MIKROTEST)磁吸引力測厚儀精度的幾個(gè)因素
點(diǎn)擊次數(shù):1343 更新時(shí)間:2020-10-27
 

由于磁吸力或測厚儀經(jīng)過校準(zhǔn)后,在使用中不能再變動(dòng),所以在實(shí)際使用中可能會(huì)出現(xiàn)的一些影響測量精度的因素必須加以考慮,并對測量結(jié)果進(jìn)行必要的修正。以獲得更準(zhǔn)確的讀值。這些因素有:

 

a、鋼鐵基體的磁特性
磁性測厚儀受基體金屬導(dǎo)磁性能變化的影響。低碳鋼磁性的變化是很輕微的不必考慮,高碳鋼及熱處理后的硬鋼則會(huì)使讀值偏高。
b、基體金屬厚度
該儀器有一個(gè)基體小臨界厚度值。型號不同,則該臨界厚度不同。請參考技術(shù)說明指標(biāo)表(表1)。若厚度超過這一小臨界厚度值,測量值不會(huì)受到影響;反之,則造成讀值偏高。
c、邊緣效應(yīng)
該測量方法對被測體邊界、孔眼、空腔等表面形狀陡變敏感。因此,在靠近邊緣或內(nèi)轉(zhuǎn)角處進(jìn)行測量是不可靠的。所以,技術(shù)說明指標(biāo)指出了小測量面積。必須要測量這種場合時(shí),一定要經(jīng)過校準(zhǔn)。
d、曲率
被測量件的曲率對測量有影響,一般凸面造成測值偏大,凹面則偏小。盡管儀器在設(shè)計(jì)時(shí)對這方面有所補(bǔ)償。
e、覆蓋層的厚度
測厚精度隨覆層厚度變化面變化。對于薄的覆層,其測量精度是一個(gè)常數(shù),與覆層厚度無關(guān);對于厚度的覆層,其精度與覆層厚度近似成正比。
f、剩磁
基體金屬的剩磁對 Mikrotest 測厚儀的測量結(jié)果會(huì)有影響。
g、磁場
周圍各種電氣設(shè)備所產(chǎn)生的強(qiáng)磁場會(huì)嚴(yán)重干擾測厚儀工作。
h、地球重力
Mikrotest 測厚儀測量讀數(shù)受測頭相對于地球重力方向影響。

了解了以上幾項(xiàng)可能影響測量精度的因素后,可以通過試測找到一個(gè)修正值。比較實(shí)用的方法是:在有以上情況的的沒有涂鍍層的被測件表面上先測量幾次,找到一個(gè)平均初始值,然后在同樣條件的涂鍍層表面測量取得讀數(shù)后,減去這個(gè)初始值。對于 b 項(xiàng)所列情況,可以采取在基材下面無隙緊貼一塊鐵板來近似解決。

 
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