德國菲希爾X射線(xiàn)熒光法(XRFA)原理及應用 |
點(diǎn)擊次數:3785 更新時(shí)間:2020-06-23 |
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能量散射X射線(xiàn)熒光光譜法(EDXRF)作為鍍層厚度測量和材料分析的方法,可用來(lái)定量和定性分析樣品的元素組成,也可用于鍍層和鍍層系統的厚度測量。無(wú)論是在實(shí)驗室還是工業(yè)生產(chǎn)環(huán)境中,這一方法都能完美勝任,并還可以與現代化設備一起發(fā)揮作用。 原理 X射線(xiàn)熒光分析基于以下物理現象:樣品材料中的原子由于受到初級X射線(xiàn)轟擊,從而失去內層軌道中的某些電子。失去電子所留下的空穴會(huì )被外層電子來(lái)填補,在填補的過(guò)程中,會(huì )產(chǎn)生每個(gè)元素*的特征X射線(xiàn)熒光。接收器探測到該熒光射線(xiàn)后,便能提供樣品的材料組成等信息。
應用 由于能量色散X射線(xiàn)熒光光譜法可以分析材料成分和測量薄鍍層及鍍層系統,因而應用廣泛: 在電子和半導體產(chǎn)業(yè)里,測量觸點(diǎn)上薄金,鉑和鎳層厚度或痕量分析。 在鐘表和珠寶行業(yè)或采礦精煉工業(yè)中,精確分析貴金屬合金組分。 在質(zhì)量管控和來(lái)料檢驗中,需要確保產(chǎn)品或零部件*材料設計規范。如在太陽(yáng)能光伏電池產(chǎn)業(yè)中,光伏薄膜的成分組成和厚度大小決定了光伏電池的效率。在電鍍行業(yè)中,則需要測量大批量部件的厚度。 對于電子產(chǎn)品的生產(chǎn)者和采購者,檢驗產(chǎn)品是否符合《限制在電子電氣產(chǎn)品中使用有害物質(zhì)的指令》(RoHS指令)也是十分關(guān)鍵的。 在玩具工業(yè)中,也需要有可靠的有害物質(zhì)檢測手段。 對于以上測量應用,菲希爾的FISCHERSCOPE X-射線(xiàn)光譜儀都能完美勝任。 |
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